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是的，但最起碼的底線應該是，發生讀取數據損毀、記錄0E事件，就該屏蔽此壞塊，然後由備用區塊替補
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我去年在reddit (美國人常去的社交網站，類似台灣的ptt) 用關鍵字只找到一篇三星0e有關帖，發文者直接就講是從中國網站得到的訊息以及有消費者因此出保固而獲得三星同意，為何美國的3C論壇怎都完全找不到相關訊息也沒人討論...
估計美國消費者SSD用到有問題就直接出保就好了，誰會用CDI特地在那邊一直監控0e欄位的數值...
這或許是東西方消費者，3C使用文化的巨大差異導致的吧...也難怪蘋果好棒棒的銷售策略在那邊特別管用
應該就是文化差異、消費習慣不同。現在SSD跌到這種價位，即使是新裝入門機都用SSD(SATA or NVME)，會有更多人重視SSD的數據安全性
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frank2424 wrote:
因為不想重灌C槽還在...(恕刪)
事後想想覺得很怪
我的KC2500，韌體版本S778101
以及8樓，frank2424大大提供的訊息，KC2500，韌體版本S778102
(frank2424大大:發生死當的狀況)
高達14萬的0E，應該也是發生數據損毀的狀況
發生數據損毀、記錄0E事件，產生壞塊
理論上應該要屏蔽壞塊，然後備用區快替補上去
但是不管是舊版韌體S778101，或者新版韌體S778102
都是:
數據毀損，產生壞塊，報告0E。
壞塊繼續使用，備用區塊在場外看戲。
不屏蔽壞塊，繼續往壞塊寫入數據，數據不斷的毀損，產生更多0E
這種調度策略...感覺根本就是個恐怖故事
其實這也是一開始出現些許0E，但我心存僥倖的原因
(一般來說，出現0E增加，壞塊增加，可用的備用區塊就會減少，拿去替補)
只是沒想到...備用區塊完全不跟你講道理
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systemctl wrote:
要不是前年(2021)對岸有高人搞出三星0e門事件，估計當時全世界99.99%的SSD消費者根本不知道NVMe SSD的磁碟參數還要看0e這一欄位。
我去年在reddit (美國人常去的社交網站，類似台灣的ptt) 用關鍵字只找到一篇三星0e有關帖，發文者直接就講是從中國網站得到的訊息以及有消費者因此出保固而獲得三星同意，為何美國的3C論壇怎都完全找不到相關訊息也沒人討論...
早期SLC/MLC時代,SSD多數還是SATA,沒有0E問題
近幾年nvme ssd普遍化,但早進入TLC/QLC時代
0E問題就慢慢浮出抬面了
他好比是傳統碟的05/C5
以前傳統硬碟看到05/C5出現數值變黃燈,就差不多要送修了
或許是文化的差異...老美不愛每天看0E數值多少
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grason00 wrote:
他好比是傳統碟的05/C5
以前傳統硬碟看到05/C5出現數值變黃燈,就差不多要送修了
NVMe SSD更精確講是要看03與0E (不是大多數人看的05，就是CDI顯示的健康度)，03不為100(10進位)/64(16進位)，0E不為0 就表示SSD開始有些問題了。相當於傳統硬碟的05與C5。
但是兩者有所不同的是，保固內傳統硬碟出現05與C5有數值是絕對可以出保，不管哪廠都一樣。NVMe SSD 出現03與0E數值可不見得能以此為藉口出保，還要看各廠家的把關尺度，去年在美國有人想要比照中國消費者作法以0E值異常出保980 pro就被北美三星代理商拒絕，後續事情演變成怎樣我就沒去追了。
01版上也有人同樣理由出保先被台灣三星代理商拒絕，後來轉貼對岸三星公告文才勉強同意換貨，只能說是個案並不是正式的保固政策(有吵有糖吃)。
至於金士頓，以樓主的案例根本不需要提出0E值異常的證據，都用到掉碟資料毀損了，當然有充足出具保固的理由。
至於#16那位仁兄....也不需要...
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frank2424 wrote:
測一下...尷尬了大...(恕刪)
你這個測試結果+0E爆炸，你的KC2500高機率是有問題
如18樓systemctl大大所言，出現0E不見得所有廠商都會認
但是只要SSD出現，掉盤、無法開機、數據丟失，廠商是閃不掉的
目前你的狀況如果只是出現死當，可以試著反應給金士頓客服，看能不能RMA
是否符合廠商的RMA標準
畢竟系統死當的因素很多，硬碟只是其中一個可能的因素。
(我是提供BIOS開機無法認盤的照片)
HDtune、diskgenius這類工具，掃壞軌的結果，對於SSD廠商來講，基本上是不認的。
應該有不少人認為SSD掃壞軌，是在搞笑。
SSD物理特性、構造完全跟機械硬碟不同，哪來的磁軌?
這個說法，我覺得只說對一半。
物理特性是不同，SSD是Flash顆粒，同樣是存儲裝置的一種
存儲裝置的健康狀態，最直觀的就是讀、寫速度，響應時間
1.讀\寫速度、響應時間正常，只能說基本上沒問題(不代表沒有潛在問題)
2.讀\寫速度、響應時間不正常，表示盤"疑似"有問題，但不能確定其成因
(可能是背景操作、冷數據、壞塊...)
HDtune、diskgenius掃壞軌，基本上就是檢查全盤每個儲存區塊的"讀取速度、響應時間"
(只讀不寫，不會消耗SSD寫入壽命)
讀取速度由不同色塊區分，響應時間如果超過某個閾值，就判定為壞軌(壞塊)
1.做為系統槽，會存在大量背景系統操作(讀寫SSD)，可能造成誤判
2.天生的物理特性，flash會隨時間而逐漸漏電，造成數據逐漸異常
存儲的數據時間過久，稱之為冷數據。
讀取數據異常的時候，需要ECC糾正==>讀取速度緩慢、響應時間久。
3.如果存儲的區塊漏電率過高，導致數據太多損毀，超過ECC糾正能力，基本上就可以稱之為壞塊。
掃壞軌(壞塊)，其結果不一定準確，但是有一定的參考價值(評估健康度)
可以結合使用者遇到卡頓、數據丟失、0E...等等去判斷
SMART讀到的0E，也有可能是冷數據誤判
可以參考:https://www.ptt.cc/bbs/Storage_Zone/M.1683744392.A.032.html
可以全盤多讀幾圈，讓主控自行判斷冷數據執行加熱的動作
閒置一段時間之後，再掃一次，如果0E持續增加，應該就不是冷數據的問題
而是顆粒快不行了，有壞塊產生
如果無法提供SSD有數據丟失的明確證明，且自行判斷有壞塊
可以用urwtest(消耗寫入壽命)
全盤寫入可校驗的真實數據，之後執行數據校驗
校驗失敗，就是寫入的數據丟失
數據損毀/丟失的鐵證，任何廠商都是賴不掉
#之前在淘寶買高速USB隨身碟，2246XT主控 + toshiba/sandisk 3DTLC
感覺不太正常，最後跑urwtest，截圖，然後就退貨+全額退款
想知道這方面的資訊要在哪裡學，腦子好亂[口水]
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